[2024. 04. 09.] 최승현 통합과정, 배영목 박사과정, 이동희 교수님, 김광재 교수님 Advanced Engineering Informatics 논문 게재 승인

최승현 통합과정, 배영목 박사과정, 이동희 교수님, 김광재 교수님께서 작성하신 논문 "Development of a Spatial Dimension-based Taxonomy for Classifying the Defect Patterns in a Wafer Bin Map"이 Advanced Engineering Informatics 저널에 게재 승인되었습니다.

축하드립니다.

(논문 정보는 아래와 같습니다.)

Choi, S., Lee, D., Kim, E., Bae, Y., Oh, Y., Kim, K., "Development of a Spatial Dimension-based Taxonomy for Classifying the Defect Patterns in a Wafer Bin Map", Advanced Engineering Informatics, Accepted for Publication, 2024