[2024. 11. 29. - 2024. 11.30.] 김광재 교수님, 배영목 박사과정, 2024 Chinese Institute of Industrial Engineers Annual Conference 참석

김광재 교수님과 배영목 박사과정이 대만에서 열린 2024 Chinese Institute of Industrial Engineers Annual Conference에 참석하셨습니다.

김광재 교수님께서는 행사 오프닝 세레모니에서 축사를 하셨습니다.

배영목 박사과정은 "A Spatial-contextual Deep Learning Approach for Enhanced Latent Defect Chip Detection in Semiconductor Fabrication"와 "Enhancing Semiconductor Yield Prediction with a Dual-View Approach: A Case Study Combining Equipment Usage and Accumulated Cycle Time Data"를 주제로 발표를 하였습니다.

본 학회를 통해 대만의 연구자들과 교류하며 새로운 배움을 얻어가는 자리였습니다.

 

[행사에 참석한 김광재 교수님과 배영목 박사과정]

 

[축사를 하시는 김광재 교수님]

 

[연구 발표를 하는 배영목 박사과정]