[2024. 10. 20. - 2024. 10. 23.] 배영목 박사과정, 2024 INFORMS Annual Meeting 참석

배영목 박사과정이 미국 시애틀에서 열린 2024 INFORMS Annual Meeting에 참석했습니다.

배영목 박사과정은 "Enhancing Semiconductor Yield Prediction with a Dual-View Approach: A Case Study Combining Equipment Usage and Accumulated Cycle Time Data"를 주제로 구두 발표하였습니다.

또한, 배영목 박사과정은 Poster competition에도 참가하여 "Latent Defect Chip Detection in Semiconductor Manufacturing: A Wafer Spatial Context-Assisted Deep Learning Approach"라는 주제로 연구 발표를 진행하였습니다.

학회 발표를 통해 전세계의 연구자들과 교류하여 새로운 배움을 얻어가는 자리였습니다.

[구두 발표 중인 배영목 박사과정]

[포스터 발표 중인 배영목 박사과정]

[본 학회에 참여한 배영목 박사과정과 졸업생들]