[2023. 04. 13.] 김주영 석사 외 대한산업공학회 논문 게재 승인

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2023-04-13 16:18
조회
1495
품질시스템 연구실 졸업생 김주영 석사, 배영목 박사과정, 최승현 통합과정, 김광재 교수님께서 작성하신 논문 "칩 간 공간적 유사성과 검사항목의 상관관계를 고려한 반도체 웨이퍼 테스트 데이터의 결측치 대체 방법 개발"이 대한산업공학회지에 게재 승인되었습니다.

축하드립니다.

(논문 정보는 아래와 같습니다.)

김주영, 배영목, 최승현, 김광재 "칩 간 공간적 유사성과 검사항목의 상관관계를 고려한 반도체 웨이퍼 테스트 데이터의 결측치 대체 방법 개발," 대한산업공학회지, 2023
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