[2021. 10. 22.] Computers & Industrial Engineering 논문 게재 승인

최승현 박사과정, 김광재 교수님, 배영목 석사께서 참여한 논문 "An oversampling method for wafer map defect pattern classification considering small and imbalanced data"가 Computers & Industrial Engineering 저널에 게재 승인 되었습니다.

축하드립니다.

(논문 정보는 아래와 같습니다.)

Kim, E. S., Choi, S. H., Lee, D. H., Kim, K. J., Bae, Y. M., & Oh, Y. C. (2021). An oversampling method for wafer map defect pattern classification considering small and imbalanced data. Computers & Industrial Engineering, 107767.